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半導體科技新聞- IC測試之發展趨勢- Semicondutor News ...
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日期：2025-10-12
薄膜針測卡(Membrane Probe Card)是採用薄膜技術(Thin Film technology)製成。 ... 上億元，如Advantest之5581型，Teradyne之J973EP型都是這種類型的Tester。...看更多
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