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  CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具
  
  Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響相當大的重要製程；此探針卡可使成品的良率由原來的70 ...
  
  2025-05-06
  
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  ProbeLeader - 勵威電子資訊網
  
  Probe Card Load Board Burn-In Socket Test Socket Equipments & Tools 2011 2010 2009 2008 2007 2006 Contact Us Locations 測試載板探針卡 IC 測試座自動化&中古設備探針卡勵威有懸臂式探針卡 ...
  
  2025-04-29
  
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勵威電子資訊網

日期：2025-04-29

勵威有懸臂式探針卡與垂直探針卡，我們提供客製化設計與解決方案，滿足您各種不同的測試需求。...

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19.Probe Card Holder - 貝斯科技股份有限公司

日期：2025-05-03

probe card holder 探針卡治具 Probe card holder(配合probe station使用) 首頁最新消息商品介紹 1.Probe Station探針台(4吋6吋8吋12吋)) 2.Micropositioner探針座 3.Tip Holder針桿(Triaxial-Coaxial) 4.Triaxial(公 to ?) Cable Assembly ......

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Wafer level Vertical probe card.pdf - 專業集成電路測試網-晶片測試技術-ic test

日期：2025-05-01

Wafer level Vertical probe card.pdf - 專業集成電路測試網-晶片測試技術-ic test...

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EVENSTAR TECHNOLOGY(新竹、WAT CARD、PROBE CARD、TEST PROBE CARD、測試卡、探針卡)

日期：2025-05-05

廣告 EVENSTAR TECHNOLOGY(新竹、WAT CARD、PROBE CARD、TEST PROBE CARD、測試卡、探針卡) 位於：新竹、湖口。提供：特殊閥件製品、空壓元件、光電光源產品、儀器、自動控制零件、培林、伺服器馬達、Server Motor、鐵弗龍製品、冷 ......

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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具

日期：2025-04-30

探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響相當大的重要製程；此探針卡可使成品的良率由原來...

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垂直探針卡實物照片垂直式探針技術規格 Probe Size 5 mils 4 mils 3 mils Probe Shape Flat Pointed / Flat Pointed / Flat Probe Material Paliney 7 Paliney 7 Paliney 7 Probe Force (g/mil) 2.7 2.4 1.8 Max Current (DC) 550mA 480mA 340mA...

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