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![半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 整合型垂直探針卡 - Semicondutor Magazine]()
ssttpro.acesuppliers.com旺矽科技為台灣最大之探針卡製造廠，除了致力於提供客戶完整之服務外，更持續的推動新產品開發，以滿足客戶各種測試需求。整合型垂直探針卡(Integrated Vertical Probe Card)主要應用於覆晶封裝晶片(Flip Chip)測試，以及銲墊(Pad)四周分佈(Peripheral)之多晶粒 ...瀏覽：1304 -
![晶圓測試探針卡 - 教育部區域產學中心國立台北科技大學電子報]()
www.cc.ntut.edu.tw目前市面上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) 無法在單位面積中增加更多的探針， ...瀏覽：312
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日期：2025-05-06
密度、高精度的垂直式探針卡（Vertical Probe Card），使得高單價的精密探針卡藉由
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日期：2025-05-07
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除了晶圓探針卡之外，旺矽亦針對市場新需求，開發出半自動晶圓針測機，提供LED
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日期：2025-05-01
旺矽科技股份有限公司,VPC研發處：探針卡產品設計工程師,電子工程師,PCB佈線
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微垂直探針卡之設計與製作. The design and fabrication of MEMS vertical probe
card. 指導教授：鄒慶福. 學. 生：陳俊宇....
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日期：2025-05-05
微型懸臂式探針卡. A cantilever mirco probe card. 指導教授：鄒慶福. 學. 生：許明莉.
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日期：2025-05-04
Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，
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日期：2025-05-04
Cascade Microtech's Pyramid Probe Cards for RF wireless, high-speed digital in
SiPs, SoCs, and leading edge DC parametric testing. Call 1-800-550-3279 to ......
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