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原力精密儀器 (Force) 公司使用 NI sbRIO 開發高速高精確度之原子力顯微鏡 (AFM) 控制系統 - Solutions - National Instruments

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日期：2025-05-25
- 呂 寧軒, 原力精密儀器股份有限公司系統 工程師 The Challenge: AFM 原子力顯微鏡需要高速、高精確度的訊號處理與控制功能，而我們原本系統的掃描速度一直有個瓶頸，應用 NI 產品成功開發出新系統，達到更高速、更準確的量測效果。 The Solution: ......看更多

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