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國立交通大學研究發展處
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日期:2025-05-21
一、儀器名稱 *中文名稱: 場發射掃描式電子顯微鏡 *英文名稱:Field Emission Scanning Electron Microscope *英文簡稱:FE-SEM 二、儀器廠牌、型號、購置年限 廠牌: JEOL 型號:JSM-6700F 購置年限:2005年12月 三、重要規格...看更多