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場效發射式掃描電子顯微鏡(FE-SEM)
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日期：2025-12-04
多功能場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) Multi- functional Field-Emission Scanning Electron Microscope 一、設備基本資料： 功能簡介： 多功能場發射掃描式電子顯微鏡附加了能量分散X光譜儀(EDS)、陰極發光分析儀(CL)及電子背向散射繞射儀(EBSD)，主要應 ......看更多
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