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微光致螢光/拉曼光譜儀 - 中山貴重及共用儀器中心
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日期：2025-10-19
儀器 設備說明 性能說明： 1. 量測樣品範圍可小至 2.5 μ m 以下。 2. 可量測半導體能帶介於 1.5~3.8 eV。 3. 可分析各式材料之拉 曼 光譜，包括： 塊材、薄膜、粉末及液體等 ......看更多
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