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掃描式電子顯微鏡
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日期：2024-05-07
掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:97.09.04 掃描式電子顯微鏡係接收由物體表面經由外加高能電子撞擊後所釋出的電子 作為呈像之 依據，具深景深的特性，對於用來觀察物體表面三度空間之微細結構，扮演了非常真實且方便的角色。...看更多
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