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  電子顯微鏡 EM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM) Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM (Cs Corrected Field Emission TEM) 高分辨穿透式電子顯微鏡(HRTEM) HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, HRTEM
  
  2024-04-24
  
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  場發射型掃描式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心
  
  場發射型掃描式電子顯微鏡最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有 5 ～ 30 kV 之電子束 ...
  
  2024-04-24
  
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場發射電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心

日期：2024-04-24

場發射電子顯微鏡 Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy (預約 FEG-SEM 者，請詳讀本儀器簡介及規定 (紅色部分)，以免違規) 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡）儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning ......

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場效發射式掃描電子顯微鏡(FE-SEM)

日期：2024-04-25

多功能場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) Multi- functional Field-Emission Scanning Electron Microscope 一、設備基本資料：功能簡介：多功能場發射掃描式電子顯微鏡附加了能量分散X光譜儀(EDS)、陰極發光分析儀(CL)及電子背向散射繞射儀(EBSD)，主要應 ......

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國立交通大學研究發展處

日期：2024-04-19

一、儀器名稱＊中文名稱：場發射掃描式電子顯微鏡＊英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope ＊英文簡稱：FE-SEM 二、儀器廠牌、型號、購置年限廠牌： JEOL 型號：JSM-6700F 購置年限：2005年12月三、重要規格...

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場發射掃描式電子顯微鏡 - 中興大學教職員工網頁

日期：2024-04-26

場發射掃描式電子顯微鏡 Field-emission scanning electron microscope 原理、功能廠牌、規格&附件服務項目申請服務辦法收費標準地點、聯絡人預約時段查詢場發射掃描式電子顯微鏡 Field-emission scanning electron microscope...

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