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掃描式電容顯微鏡(Scanning Capacitance Microscopy) - MA-tek

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日期：2025-06-11
掃描式電容顯微鏡可觀察二維掺雜影像, 並可分辨N型區域與P型區域, 對因掺雜異常分佈所導致的故障及 ......看更多

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