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掃描穿透式電子顯微鏡三維斷層顯像法之簡介
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日期：2025-06-20
掃描穿透式電子顯微鏡 斷層顯像技術之解析度，在儀器環境良好 (即無噪音、震動或外在電磁場等干 擾) 情況下可達1 奈米，但一般情況為數個奈米18。四、 ......看更多
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