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highscope.ch.ntu.edu.tw穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...瀏覽：1004
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日期：2025-04-28
效的聚焦作用(1931) → Rüska發表第㆒部穿透式電子顯微鏡(1934). → Driest和
Muller改良Rüska的電子 ... 電子顯微鏡與光學顯微鏡之比較表[3]。 物鏡與目鏡之
配合....
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日期：2025-04-25
一種量測材料電阻值的儀器，可適用於電機、電子、光電、化工、材料等研究領域。毫歐表的基本原理乃根據歐姆定律。主要量測於連接器、電阻、電池、開關。 本中心分高電阻與低電阻量兩種量測儀器 。...
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研發奈米科技的基本工具之一. 電子顯微鏡介紹– TEM. 穿透式電子顯微鏡(
Transmission Electron Microscopy；TEM). 對於近十年來迅速發展的半導體製程，
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穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy, TEM) 穿透式電子顯微鏡
具有高穿透能力及高解析度，為材料科學研究上最重要的工具之一。穿透式電子顯微
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日期：2025-04-28
定電子顯微鏡磁場透鏡構造的基礎。1934 年，. Rüska 發表第一部穿透式電子顯微鏡
(TEM)，. 1935 年，Driest 和Muller 改良Rüska 的電子顯. 微鏡，使其解像力大於 ......
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