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電子顯微鏡及能譜分析 - Superconductor Lab
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日期：2025-12-14
穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy, TEM) 穿透式電子顯微鏡
具有高穿透能力及高解析度，為材料科學研究上最重要的工具之一。穿透式電子顯微
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