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日期:2024-04-20
穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ......
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日期:2024-04-18
FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 可變真空系統(高/低真空機型)...
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日期:2024-04-19
儀器中文名稱:生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱:Bio-TEM/SEM ...
儀器購置年月:1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ......
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日期:2024-04-21
聚焦透鏡用於將最初的電子束成型,物鏡用於將穿過樣品的電子束聚焦,使其穿過樣品(在 掃描穿透式電子顯微鏡 ......
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日期:2024-04-17
一、 儀器簡介 廠牌:JEOL 型號:ARM200F 中文名稱:球面像差修正 掃描穿透式電子顯微鏡 英文名稱:Spherical ......
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日期:2024-04-19
生物型 穿透式 及 掃描式電子顯微鏡 Bio-TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE / SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ......
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日期:2024-04-15
解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子 ......