search:掃描穿透式電子顯微鏡相關網頁資料

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        掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
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    日期:2024-04-20
    穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ......
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    日期:2024-04-16
    以場發射200KV高能量電子穿透試片,具穿透及掃描功能,可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之 ......
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    日期:2024-04-18
    FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 可變真空系統(高/低真空機型)...
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    日期:2024-04-19
    儀器中文名稱:生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱:Bio-TEM/SEM ... 儀器購置年月:1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ......
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    日期:2024-04-21
    聚焦透鏡用於將最初的電子束成型,物鏡用於將穿過樣品的電子束聚焦,使其穿過樣品(在 掃描穿透式電子顯微鏡 ......
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    日期:2024-04-17
    一、 儀器簡介 廠牌:JEOL 型號:ARM200F 中文名稱:球面像差修正 掃描穿透式電子顯微鏡 英文名稱:Spherical ......
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    日期:2024-04-19
    生物型 穿透式 及 掃描式電子顯微鏡 Bio-TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE / SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ......
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    日期:2024-04-15
    解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子 ......