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  掃描穿透式電子顯微鏡三維斷層顯像法之簡介
  
  掃描穿透式電子顯微鏡斷層顯像技術之解析度，在儀器環境良好 (即無噪音、震動或外在電磁場等干擾) 情況下可達1 奈米，但一般情況為數個奈米18。四、 ...
  
  2025-12-06
  
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  球像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 - NCKU, 成功大學-儀器設備中心
  
  球像差修正掃描穿透式電子顯微鏡儀器名稱球像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 Jeol-2100F Cs Corrector STEM ...
  
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掃描穿透式電子顯微鏡的相關儀器公司資訊

掃描穿透式電子顯微鏡的相關商品

解析型掃描穿透式電子顯微鏡

日期：2025-12-06

解析型掃描穿透式電子顯微鏡. 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子穿透試片，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析 ......

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場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM)

日期：2025-12-03

儀器中文名稱：場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡 http://www.nscric.nthu.edu.tw/EM/ 儀器英文名稱：Spherical-aberration Corrected Field Emission ......

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高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡教學影片- NCKU, 成功 ...

日期：2025-12-10

... 場發射掃描穿透式電子顯微鏡教學影片. 高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡(High-resolution Field-Emission Transmission Electron Microscopy;HR-TEM2100) ......

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球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處

日期：2025-12-07

中文名稱：球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡英文名稱：Spherical Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscope 英文簡稱：Cs-corrected ......

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高解析掃描穿透式電子顯微鏡在後段金屬連線的應用 - 國家奈 ...

日期：2025-12-05

18. 第. 九. 卷. 第. 四. 期. 奈. 米. 通. 訊. 摘要. 本文利用結合高解析能損儀之掃描穿透. 式電子顯微鏡，進行奈米元件後段製程上的. 分析。經研究發現利用高能量分辨率 ......

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原子解析度電子顯微鏡分析技術簡介 - 國家奈米元件實驗室

日期：2025-12-10

同調性(coherent) 的電子束源，所以場發射. 穿透式電子顯微鏡較適合加裝X 光的偵測器. 如E D S，或裝上掃描線圈成為掃描穿透電子. 顯微鏡(scanning transmission ......

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Scanning transmission electron microscopy - Wikipedia, the free ...

日期：2025-12-07

A scanning transmission electron microscope (STEM) is a type of transmission electron microscope (TEM). Pronunciation is [stem] or [esti:i:em]. As with any ......

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Scanning Transmission Electron Microscopy for ... - The Stem Group

日期：2025-12-04

The scanning transmission electron microscope (STEM) is an invaluable tool for ... on the same principle as the normal scanning electron microscope (SEM), by....

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