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探針接觸特性對於晶圓良率測試之研究The Effect of Probing ...

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日期：2025-05-13
2010年11月23日 - characteristic on the test yield during the electric probe test of the wafer. ... 晶圓測試簡介. 晶圓針 ... 片，使探針卡(Probe Card) 的探針可以準確地與晶片上 ..... http://www.swtest.org/swtw_library/2003proc/PDF/S06_02_Stalna....看更多

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