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散射式掃描近場光學顯微鏡-次十奈米級光學檢測
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日期:2025-06-05
目前解析度已可解析到原子等級。家族成員中的掃. 描近場光學顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM). (2, 3) 為突破光學繞射極限的先. 鋒,是研究奈 ......看更多