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晶圓探針卡之微探針接觸與電熱耦合分析研究
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日期：2025-06-17
2012年2月23日 ... 為了在設計開發階段，即能瞭解微探針的「跪針」與「燒針」過程與成因，本研究提出三
年期的 ... Probe card is an critical instrument in wafer probing....看更多
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