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材料世界網:奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用
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日期：2025-05-18
2010年7月16日 - 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; ... s-SNOM原理是利用AFM的探針尖端與樣品表面之間的電磁交互作用所 ......看更多
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