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材料世界網:次十奈米光學顯微鏡的發展及應用

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日期：2025-06-02
1984年因SPM技術的提升，而發展出掃描 近場光學顯微鏡。 SNOM 技術中的孔洞是指金屬包覆極細光纖的尾端開口，其 ......看更多

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