橢圓偏光儀 FE-5000 - 橢圓偏振術量測橢圓參數(cosΔ、tanψ)/分析薄膜光學常數、折射係數、消光係數 - 大塚 ...

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日期:2024-05-12
橢圓偏光術量測橢圓參數(cosΔ、tanψ)、分析薄膜厚度、光學常數(n:折射係數、k:消光係數)可得到超薄膜更詳盡的數據 ... 半導體晶圓 ・電晶體閘極(Gate)氧化薄膜、氮化膜,電極材料等 ・SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly ......看更多