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橢圓偏光儀之原理與應用 - 國研院儀科中心
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日期：2025-06-04
橢圓偏光儀之原理與應用 1890 年代德國物理學家 Drude 利用兩道偏振方向互相垂直的光來量測薄膜的厚度，此為橢圓偏光儀量測最早的基本概念，而在 1945 年，Alexandre Rothen 將此種利用不同偏振光來量測樣品厚度及其折射率的方法統稱為橢圓偏光術 ......看更多
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