無孔徑型掃描式近場光學顯微鏡之調變訊號分析 - 國立成功大學

無孔徑型掃描式近場光學顯微鏡之調變訊號分析 - 國立成功大學

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日期:2025-06-03
2008年10月3日 ... 1.緒論掃描式近場光學顯微鏡(SNOM)為現今主要量測低於波長二分之ㄧ解析度之 儀器,它是利用尖端極細的光纖探針(孔徑一般約50 nm),外圍包覆 ......看更多