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白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格: D.再談記憶體測試
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日期:2025-05-15
再談記憶體測試 談一些過去與未來 從記憶體發展的歷史來看,以前的設計方式,決大部份是獨立地開發成單顆的IC。且未與其它的電路混合設計在一起。然而時代的演進,及製程技術上的提昇,人們大量地將許多不同功能的電路,設計在單一顆IC ......看更多