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穿透式電子顯微鏡 « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處

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日期：2025-05-20
穿透式電子顯微鏡(TEM) 主要規格 1.穿透式電子顯微鏡 ‧加速電壓:40-120KV ‧放大倍率：50-800000 ‧試片傾斜角度≧25 2.數位影像處理系統 (CCD) ‧CCD畫素:4008x2672 ‧CCD影像輸出：全影或局部 ‧畫面速率：13fps/0.25fps...看更多

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