穿透式電子顯微鏡

穿透式電子顯微鏡

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日期:2025-05-20
穿透式電子顯微鏡 穿透式電子顯微鏡( TEM )一般運用於金屬、高分子、電子、陶磁材料與生 醫 試片的內部結構及組織分析缺陷之觀察。 儀器設備說明 型 號: PHILIPS CM-200 TWIN,Transmission Electron Microscope...看更多