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第三節奈米科技尺度
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日期:2025-06-11
原子力顯微鏡(AFM). 近場光學顯微鏡(SNOM). 掃描穿隧顯微術. (Scanning
Tunneling Microscopy). 源於1980年代初期,能解析出晶體表面的原子結構及電子
分佈 ......看更多