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膜厚量測儀 FE-300 - 非接觸式膜厚計、分析多層光學薄膜、量測UV~NIR光譜 - 大塚科技股份有限公司

膜厚量測儀 FE-300 - 非接觸式膜厚計、分析多層光學薄膜、量測UV~NIR光譜 - 大塚科技股份有限公司

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日期：2025-06-06
非接觸式膜厚計，分析多層光學薄膜、量測紫外光到近紅外光光譜、薄膜到厚膜的寬闊量測範圍（10nm～40μm） ... 薄膜到厚膜的量測範圍、UV~NIR光譜分析。 高性能的低價光學薄膜量測儀。 藉由絕對反射率光譜分析膜厚。...看更多

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