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重新詮釋記憶體測試定義
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日期：2025-10-11
測能力的因素包括探針卡（Probe-card）技術和晶. 圓的尺寸，而限制終程測試並測 ... 可以彌補探針卡的成本，但萬一元件的種類很多. 樣，而且探針卡的設計是比較低 ......看更多
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