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開路與短路的測試參考設計 - National Instruments

開路與短路的測試參考設計 - National Instruments

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日期:2025-05-15
此篇技術文件將說明 PXI 規格的開路與短路測試系統相關技術。 ... 若要進一步了解硬體元件,可點選此處。若要進一步了解軟體元件,可點選此處。 雖然目前有多款裝置可測試開路與短路,但仍屬半導體檢驗測試最為常見。...看更多