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闩锁效应_互动百科
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日期：2025-06-06
闩锁效应是由NMOS的有源区、P衬底、N阱、PMOS的有源区构成的n-p-n-p结构产生
的，是CMOS工艺所特有的寄生效应，严重会导致电路的失效，甚至烧毁芯片。...看更多
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