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電路板的表面絕緣電阻(SIR)量測 | 電子製造，工作狂人(ResearchMFG)
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日期：2024-05-12
一般我們使用這個方法來 量測靜態的表面 絕緣電阻(SIR) 與動態的離子遷移現象(ION MIGRATION)，另外，它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic Filament，導電性細絲物，陽極性玻纖纖維之 ......看更多
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