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CTimes - 積體化探針卡技術介紹: - Probe card,測試系統與研發工具
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日期：2025-12-16
Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前， 對裸晶以探 ... 這類探針卡的製作流程如(圖四)所示，首先依據廠商提供之pad assignment設計Mylar鑽孔的 ......看更多
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