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日期:2025-11-19
高分子特性概論 測量高分子結晶度的方法 班級:碩化一甲 學號:M9940109 姓名:范家誠 X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer,簡稱XRD): 1985年德國物理學家倫琴(Wilhelhm Roentgen)發現X光後,因為它具有穿透物質的能力,並可使底片感光,人們便利用X ......看更多
















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