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X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)：

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日期：2025-04-29
高分子特性概論 測量高分子結晶度的方法 班級：碩化一甲 學號：M9940109 姓名：范家誠 X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)： 1985年德國物理學家倫琴(Wilhelhm Roentgen)發現X光後，因為它具有穿透物質的能力，並可使底片感光，人們便利用X ......看更多

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