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XRF檢測膜厚儀-嘉富億科技股份有限公司
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日期:2025-09-30
1. 利用XRF測定電鍍膜厚原理 利用X射線的能量激發樣品中的金屬元素,使它產生特徵XRF射線螢光,通過檢測器檢測到XRF螢光的強度來計算金屬鍍層的厚度。具有非破壞,快速簡便的優點。檢測的範圍大約從0.01到100μm,根據元素不同會有所差異。...看更多