材料世界網:新型探針卡技術介紹

材料世界網:新型探針卡技術介紹

瀏覽:571
日期:2024-05-15
新型探針卡技術介紹 2004/8/20 [ 友 善 列 印 | 推 薦 好 友 ] 探針卡(Probe Card)應用在積體電路(IC)尚未封裝前,針對裸晶係以探針(Probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。...看更多