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半導體科技新聞- IC測試之發展趨勢- Semicondutor News, Science ...
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日期：2025-12-05
薄膜針測卡(Membrane Probe Card)是採用薄膜技術(Thin Film technology)製成。
... 儀將會受到市場需求的限制而縮小其銷售量，只限於特殊用途的廠商才會購買。...看更多
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