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X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer,簡稱XRD):
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日期:2025-04-23
光譜線的強度,大致與各成分的含量成正比。因此,X-射線粉末繞射光譜也可以作各結晶成分的定量分析;不過精確度不高。 測量結晶度的方法計算:. Xc=Wc/(Wc+Wa)....看更多