search:厚度量測儀器相關網頁資料

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    日期:2025-05-03
    先鋒科技為量測各類型薄膜厚度,代理了各種光學式非接觸式膜厚量測儀(Thin film measurement)設備,以解決不同膜層的 ......
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    日期:2025-04-29
    Alpha-SE是JAW橢圓儀應用量測中,設計用來快速量測一般薄膜材料的簡易橢圓儀, 提供波長380-900nm,並有65度/70度/75 ......
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    日期:2025-05-06
    非接觸式膜厚計,分析多層光學薄膜、量測紫外光到近紅外光光譜、薄膜到厚膜的 寬闊量測範圍(10nm~40μm)...
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    日期:2025-04-29
    光干涉式膜厚計量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(n: 折射率、k:消光係數)...
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    日期:2025-04-30
    膜厚量測儀,牛津儀器CMI700MRX系列銅膜厚測試儀為滿足印刷電路板行業銅厚 測量與質量控制的需求而設計。CMI760 ......
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    日期:2025-05-03
    X射線螢光膜厚測量儀系列用於電子元器件,半導體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍 ,裝飾件,連接器...多個行業。900系列X ......
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    日期:2025-05-01
    Our coating thickness measurement range comprises XRF analysers and coating thickness gauges....