search:厚度量測儀器相關網頁資料

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    日期:2025-11-30
    先鋒科技為量測各類型薄膜厚度,代理了各種光學式非接觸式膜厚量測儀(Thin film measurement)設備,以解決不同膜層的 ......
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    日期:2025-11-29
    Alpha-SE是JAW橢圓儀應用量測中,設計用來快速量測一般薄膜材料的簡易橢圓儀, 提供波長380-900nm,並有65度/70度/75 ......
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    日期:2025-12-04
    非接觸式膜厚計,分析多層光學薄膜、量測紫外光到近紅外光光譜、薄膜到厚膜的 寬闊量測範圍(10nm~40μm)...
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    日期:2025-12-01
    光干涉式膜厚計量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(n: 折射率、k:消光係數)...
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    日期:2025-12-05
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    日期:2025-12-01
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    日期:2025-12-01
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