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  國家度量衡標準實驗室::校正能量與收費
  
  聲量標準【A01】標準麥克風互換校正系統【A02】標準麥克風比較校正系統【A03】聲音校正器校正系統電磁標準【B01】核磁共振磁通密度量測系統【B02】磁通量測系統【B03】低磁場量測系統
  
  2025-05-15
  
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  山崩與土石流專題
  
  圖二、土石流之臨界降雨線(詹，1998) 當場降雨量是土石流之激發動力，前期降雨量則是土石流形成之潛在因素。前期降雨量的多寡，影響堆積物質的含水狀況，進而影響激發土石流所需之降雨量的多寡。
  
  2025-05-18
  
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光學鏡組、工業光學鏡組 - 顯微鏡

日期：2025-05-21

高分辨率CCD鏡頭 CCTV 各式濾片鏡無失真4000萬像素廣角同軸照明裝置廣角180 魚眼鏡頭針孔攝影機系列電動變焦鏡頭 Opto Engineering 雙遠心鏡頭矩陣檢測器雙遠心 ......

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AOI自動光學檢測、自動光學檢測設備、AOI檢測、自動光學檢查

日期：2025-05-14

提供各種AOI,自動光學檢測,AOI自動光學檢測,AOI設備,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動光學檢測機,自動光學檢查,AOI檢測,AOI檢測設備,機械視覺,COF,FPC連接器,ITO自動檢測,零件共平面,模具監視器,溢錫自動檢測,連接器自動檢測,線掃描檢測,不織布檢測,瓶胚 ......

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粒度分析檢測、粒度分析量測、微米/奈米粒度分析-北科大奈米中心

日期：2025-05-18

... 界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理...

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Horiba 雷射粒徑分析儀LA-300 Laser Particle Size Analyzer -

日期：2025-05-16

LA-300雷射光散射式粒徑分佈分析儀結合了HORIBA所保證的高準確度、寬廣的測量 ... 測量原理. Mie散射原理. 測量粒徑範圍. 0.1~600um. 測量時間. 約20秒(從開始 ......

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科技部- 科技大觀園＞文章＞科普知識＞觀微知著的「粒徑分析」

日期：2025-05-21

它的原理簡單、操作容易，不僅能測定粒子的大小，還可以分析粒徑的分布情形。 ... 避免前述各種量測方法的缺點，德國在2003 年研發出新型的粒徑分析儀。它利用 ......

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$雷射粒徑分析儀Laser Diffraction Particle Size Analyzer$

雷射粒徑分析儀Laser Diffraction Particle Size Analyzer

日期：2025-05-19

雷射粒徑分析儀. Laser Diffraction Particle Size Analyzer. 儀器設備說明：. 儀器價格：1,837,775 元. 儀器購置年月：1995 年4 月. 廠牌及型號：Coulter LS230....

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粒徑 - DKSH 台灣

日期：2025-05-15

產品描述 Spraytec 為高濃度噴霧液滴及氣膠微粒粒徑量測設計之即時監控設備, Spraytec是使用符合ISO13320之雷射光繞射原理量測0.1–2000 microns微米粒徑,並具備各級防塵,防水,防爆等嚴苛操作環境需求,提供您產品研發,品質管理及更進一步的成為您系統最適化 ......

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