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日期:2025-04-29
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)...
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日期:2025-04-23
原子力顯微鏡 (Atomic Force Micricopy, AFM)(一) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯 A. 原子力顯微鏡 介紹 藉由AFM人們將第一次直觀地看到了原子、分子,被人們稱為可以看得見原子的顯微鏡。...
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日期:2025-04-23
原子力顯微鏡原理. (atomic force microscope, AFM). 由於STM侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而 ......
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日期:2025-04-26
第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic:AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ......
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日期:2025-04-25
Nanosurf easyScan2 FlexAFM 原子力顯微鏡原理簡介. 三朋儀器股份有限公司. 竹北市自強南路8號8F-13. TEL : 03-550-8385. 曹勝益. 2010-12-22. AFM 基本構想....
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日期:2025-04-27
ㄧ、原子力顯微鏡工作原理(AFM). AFM 的微小探針通常是黏附在懸臂式的彈簧片上,當探針尖端與樣品表面接近. 時,因力場而產生作用力,造成懸臂簧片的微小偏 ......
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日期:2025-04-30
原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning force microscope,SFM)是一 ......
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日期:2025-04-29
2.1 力檢測部分 在 原子力顯微鏡/AFM的系統中,所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用 ......