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www.fpic.com.tw原力精密儀器主要提供半導體、LED、觸控面板等光電產業與研究單位所需之檢測設備.... 為您解答所有產品的相關疑問與提供技術文件下載.... Force完整最新消息與活動訊息.... PSS用AFM STEP series PSS缺陷檢測用AOI 首頁 ...瀏覽：904 -
![Atomic force microscopy - Wikipedia, the free encyclopedia]()
en.wikipedia.orgAtomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very high-resolution type of scanning probe microscopy, with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times ...瀏覽：606
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日期：2025-12-03
第 4 章 原子力顯微鏡原理 （ atomic force microscope, AFM ） 由於 STM 侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀（ atomic force microscope, AFM ），而因為對導體及絕緣體均有 ......
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日期：2025-12-06
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)...
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日期：2025-12-03
原子力顯微鏡原理. （atomic force microscope, AFM）. 由於STM侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而 ......
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日期：2025-12-04
第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic：AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ......
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日期：2025-12-03
ㄧ、原子力顯微鏡工作原理(AFM). AFM 的微小探針通常是黏附在懸臂式的彈簧片上，當探針尖端與樣品表面接近. 時，因力場而產生作用力，造成懸臂簧片的微小偏 ......
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日期：2025-12-04
Se4Sl_tpf-1 3/S/2007 ll:45:05. 第一章緒. - 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡( Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ......
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日期：2025-11-30
影片內容： 原子力顯微鏡被公認為奈米科技中重要的工具。根據美國市場調查，它是當今全球需求成長最快速的顯微設備。工研院量測中心是國內最早投入奈米顯微儀器的研究單位，所開發的ITRI-AFM，是全世界體積最小、最易整合及使用的原子力顯微鏡。...
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