search:原子力顯微鏡原理相關網頁資料

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        顯微鏡泛指將微小不可見或難見物品之影像放大,而能被肉眼或其他成像儀器觀察之工具。日常用語中之顯微鏡多指光學顯微鏡 。放大倍率和清析度(聚焦)為顯微鏡重要因素。
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        劉有台 / 工研院化學工業研究所 掃描探針顯微鏡技術(Scanning Porbe Microscopy,SPM)具有可分析微米結構以下之能力,其解析能力可到原子、奈米及分子尺寸上。掃描穿隧顯微鏡原理是利用電子穿隧的效應(tunneling effect)來得影像,樣品須要有導電性。原子力 ...
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    日期:2025-04-29
    掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯 掃描穿隧式顯微鏡(STM)是利用量子穿隧效應(quantum tunneling effect)探測晶體表面原子結構的儀器。...
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    日期:2025-04-24
    第 4 章 原子力顯微鏡原理 ( atomic force microscope, AFM ) 由於 STM 侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀( atomic force microscope, AFM ),而因為對導體及絕緣體均有 ......
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    日期:2025-04-27
    SAT,超音波,XYZTEC,YXLON,X光檢查,Condor,推拉力機,拉力機,Stresstech X-Ray 繞射儀,螺栓應力,內視鏡,X光機 ... 主要應用範圍在於零件非破壞檢驗和預防性保護 如: 飛機、造船、汽車引擎內部機構及各機體內壁接合部檢查石化工業、天然氣管線內部腐蝕 觀測 ......
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    日期:2025-04-27
    原子是一種元素能保持其化學性質的最小單位。一個正原子包含有一個緻密的原子核及若干圍繞在原子核周圍帶負電的電子。而負原子的原子核帶負電,周圍的負電子帶正電。正原子的原子核由帶正電的質子和電中性的中子組成。負原子原子核中的反質子 ......
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    日期:2025-04-22
    第 2 章 原子力顯微鏡基本原理 (Atomic Force Microscpoic : AFM) AFM 簡介 奈米技術 (Nanotechnology) 是指在奈米尺度 (1nm 到 10nm 之間) 上研究物質 (包括原子及分子的操縱) 的特性和相互作用,目標是利用原子、分子及物質在奈米尺度上所表現出來的物理 ......
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    日期:2025-04-26
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)...
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    日期:2025-04-27
    原子力顯微鏡 (Atomic Force Micricopy, AFM)(一) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯 A. 原子力顯微鏡 介紹 藉由AFM人們將第一次直觀地看到了原子、分子,被人們稱為可以看得見原子的顯微鏡。...
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    日期:2025-04-24
    原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料錶面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品錶面和一個微型力敏感元件 ......