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        第 4 章 原子力顯微鏡原理 ( atomic force microscope, AFM ) 由於 STM 侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀( atomic force microscope, AFM ),而因為對導體及絕緣體均有 ...
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        原子是一種元素能保持其化學性質的最小單位。一個正原子包含有一個緻密的原子核及若干圍繞在原子核周圍帶負電的電子。而負原子的原子核帶負電,周圍的負電子帶正電。正原子的原子核由帶正電的質子和電中性的中子組成。負原子原子核中的反質子 ...
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    日期:2024-04-12
    原子力顯微鏡原理. (atomic force microscope, AFM). 由於STM侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而 ......
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    日期:2024-04-12
    第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic:AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ......
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    日期:2024-04-15
    2008—建構中。 2003—公司已擁有120多位工作伙伴,並積極朝高......
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    日期:2024-04-15
    顯微鏡泛指將微小不可見或難見物品之影像放大,而能被肉眼或其他成像儀器觀察之工具。日常用語中之顯微鏡多指光學顯微鏡。放大倍率和清析度(聚焦)為顯微鏡重要因素。 显微镜是在1590年由荷兰的詹森父子所首创。顯微鏡的類型有許多。最常見的 ......
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    日期:2024-04-15
    產品新訊 32 原子力顯微鏡的原理和應用 整度較好,又由於所測的區域是微觀的,所以 至少要求局部比較平整,如果 ......
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    日期:2024-04-12
    Se4Sl_tpf-1 3/S/2007 ll:45:05. 第一章緒. - 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡( Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ......
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    日期:2024-04-13
    影片內容: 原子力顯微鏡被公認為奈米科技中重要的工具。根據美國市場調查,它是當今全球需求成長最快速的顯微設備。工研院量測中心是國內最早投入奈米顯微儀器的研究單位,所開發的ITRI-AFM,是全世界體積最小、最易整合及使用的原子力顯微鏡。...
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    日期:2024-04-12
    布魯克的業界最佳的原子力顯微鏡採用了最新的原子力顯微鏡技術的進步,其中包括專有的Peak Force Tapping ® ,技術包含有PeakForce QNM ®, PeakForce Capture ® and ScanAsyst ®,使用在最廣泛的應用領域。...