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AFM-原子力顯微鏡原理

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日期：2025-04-28
原子力顯微鏡原理. （atomic force microscope, AFM）. 由於STM侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而 ......看更多

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