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AFM-原子力顯微鏡原理
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日期:2024-04-19
原子力顯微鏡原理. (atomic force microscope, AFM). 由於STM侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而 ......看更多