AFM-原子力顯微鏡原理

AFM-原子力顯微鏡原理

瀏覽:369
日期:2025-10-01
原子力顯微鏡原理. (atomic force microscope, AFM). 由於STM侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而 ......看更多