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原子力顯微鏡_百度百科
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日期：2025-05-24
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料錶面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品錶面和一個微型力敏感元件 ......看更多
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