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日期:2025-04-29
掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用 許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡...
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日期:2025-05-04
2009年9月9日 ... 在這些新的研究工具當中,穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy;
TEM )可提供材料內部的形態、晶體原子結構…由於TEM具備高解 ......
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日期:2025-04-28
透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,縮寫TEM),简称透射
..... 由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后
......
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日期:2025-05-01
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠
度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析- 熱能分析- 熱機械分析儀(TMA )...
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日期:2025-05-02
為探討奈米尺度物體之微觀世界,電子顯微鏡技術不斷改進,. 以滿足人類對 ... 微鏡(
SEM) 之原理與應用做一廣泛之介紹。...
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日期:2025-05-04
掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)主要利用電子光學系統將
電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子束至樣品表面,並利用掃描線圈使其在樣品 ......
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日期:2025-04-30
2007年8月22日 ... SEM. ▫ 掃描式電子顯微鏡由於景深(Depth of Focus). 大,對於 ... SEM的基本原理
與電視相似,它是利用....
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日期:2025-05-05
掃描式電子顯微鏡/ 能量 散佈光譜儀 原理 (SEM/ EDS, Scanning Electron Microscope / Energy Dispersive Spectr ......