search:sem試片相關網頁資料

      • www.materialsnet.com.tw
        瀏覽:1455
      • www.ma-tek.com
        材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ...
        瀏覽:540
    瀏覽:455
    日期:2024-04-20
    什麼是陽極氧化鋁,AAO(anodic aluminum oxide)? 陽極氧化鋁(anodic aluminum oxide),簡稱為AAO,是一種具有六邊形(hexagon)高規則孔洞陣列結構之氧化鋁,孔道筆直均勻。其孔洞直徑依其陽極反應條件的不同,可有數十奈米大小的變化,直徑約從l4 nm到 ......
    瀏覽:825
    日期:2024-04-21
    1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...
    瀏覽:812
    日期:2024-04-26
    聚焦式離子束顯微鏡(FIB)直到1993年才開始商品上的應用,比較掃描式電子顯微鏡(SEM)和穿透式電子顯微鏡(TEM)的發明,在1950年代以前都被使用在研究開發相關的領域。直到在特定缺陷樣品位置的定點切割提供SEM和TEM的樣品製備,在工業上的應用才被大量 ......
    瀏覽:534
    日期:2024-04-25
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)...
    瀏覽:411
    日期:2024-04-21
    AFM在表面粗度上的量測與優勢 一、表面粗度(Surface roughness)的定義 二、量測表面粗度的儀器及其原理簡介 三、AFM的工作原理 四、AFM所具備的優勢 五、結論 參考文獻 一、表面粗度(Surface roughness)的定義 (1)...
    瀏覽:445
    日期:2024-04-25
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 歐傑電子能譜儀 (AES)...
    瀏覽:779
    日期:2024-04-24
    電子顯微鏡在材料的分析上一直扮演著重要的角色,尤其是掃描式電子顯微鏡的試片 ... 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發,已能將影像解析度提升到1 個奈....
    瀏覽:547
    日期:2024-04-19
    掃描式電子顯微鏡儀器構造(電子槍). Electron gun : to provide a stable beam of electrons. Three types of electrons guns are used on commercial SEMs :....