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功能穿透式電子顯微鏡 - 國立成功大學
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日期:2025-06-01
您是TEM第 參觀者自2010年4月30日起. JEOL JEM-1400,穿透式電子顯微鏡,購於
民國96年。 ... TEM:超薄切片、負染色、奈米粒子之明暗像觀察及影像擷取。選區繞 ......看更多