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半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 抑制WPE之佈植製程改良 - Semicondutor Magazine
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日期：2025-06-09
Igor Polishchuk, Nitish Mathur, Clifford Sandstrom, Pete Manos, Oliver Pohland / Cypress Semiconductor, San Jose, California 互補金屬氧化半導體(CMOS)電晶體之threshold voltages(VT)可隨著佈植井)implant well)邊界的鄰近...看更多
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